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真空鍍膜厚度測(cè)試儀 型號(hào):DP-HU

更新時(shí)間:2017-11-27點(diǎn)擊次數(shù):2409

真空鍍膜在線測(cè)厚儀/在線測(cè)厚儀/真空鍍膜厚度測(cè)試儀 型號(hào):DP-HU

:真空鍍膜在線測(cè)厚儀的組成
      設(shè)備分為三分:探測(cè)系統(tǒng)、人機(jī)交互設(shè)備、電腦實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)。
      探測(cè)系統(tǒng):主要包括光源,接收器,控制器和鋁支架
      人機(jī)界面:7寸LCD人機(jī)交互界面,顯示各個(gè)測(cè)試點(diǎn)的透過率和光密度數(shù)據(jù)。
      電腦實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)(選配):數(shù)據(jù)記錄,分析,報(bào)表等能。
      此儀器提供雙路的RS485通訊接口,標(biāo)準(zhǔn)的MODBUS通訊協(xié)議,方便和PLC,單片機(jī),人機(jī)界面,組態(tài),電腦等通訊。鍍膜機(jī)可以直接讀取此設(shè)備的光密度數(shù)據(jù),實(shí)現(xiàn)控制自動(dòng)化(閉環(huán)控制)。


二:真空鍍膜在線測(cè)厚儀的參數(shù)

    1.測(cè)試波長(zhǎng):根據(jù)客戶需要選擇,目前有如下的選擇: 
           紅外線:850 nm(默認(rèn)選項(xiàng),抗干擾能力強(qiáng))
           可見光:白光 380nm-760nm
           綠光:  530nm
    2.透過率測(cè)量度:優(yōu)于±1%
    3.透過率分辨率:0.005%;
    4.光密度測(cè)量范圍:0.00 OD --- 5.00 OD
    5.光密度的分辨率:
        0.01  for  0.00 - 3.00 OD
        0.05  for  3.00 - 5.00 OD
    6.zui大測(cè)量點(diǎn)數(shù):36點(diǎn)
    7.相鄰探測(cè)頭之間距離:zui小70mm
    8.發(fā)送接收探頭之間距離:20mm
    9.溫度范圍: -20°C --- +70°C
    10.數(shù)據(jù)刷新周期:300ms
    11.儀器整體尺寸: 100mm(寬)*230mm()* 長(zhǎng)度(根據(jù)客戶要求定制)
    12.需真空法蘭電芯數(shù):6根(不配電腦監(jiān)控),9根(配電腦監(jiān)控)
    13.電源:220V AC/50Hz
    14.通訊:雙路RS485