真空鍍膜厚度測(cè)試儀 型號(hào)：DP-HU

真空鍍膜在線測(cè)厚儀/在線測(cè)厚儀/真空鍍膜厚度測(cè)試儀 型號(hào)：DP-HU

：真空鍍膜在線測(cè)厚儀的組成
      設(shè)備分為三分：探測(cè)系統(tǒng)、人機(jī)交互設(shè)備、電腦實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)。
      探測(cè)系統(tǒng):主要包括光源，接收器，控制器和鋁支架
      人機(jī)界面：7寸LCD人機(jī)交互界面，顯示各個(gè)測(cè)試點(diǎn)的透過率和光密度數(shù)據(jù)。
      電腦實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)（選配）：數(shù)據(jù)記錄，分析，報(bào)表等能。
      此儀器提供雙路的RS485通訊接口，標(biāo)準(zhǔn)的MODBUS通訊協(xié)議，方便和PLC，單片機(jī)，人機(jī)界面，組態(tài)，電腦等通訊。鍍膜機(jī)可以直接讀取此設(shè)備的光密度數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)控制自動(dòng)化（閉環(huán)控制）。

二：真空鍍膜在線測(cè)厚儀的參數(shù)

    1.測(cè)試波長(zhǎng)：根據(jù)客戶需要選擇，目前有如下的選擇： 
           紅外線：850 nm（默認(rèn)選項(xiàng)，抗干擾能力強(qiáng)）
           可見光：白光 380nm-760nm
           綠光：  530nm
    2.透過率測(cè)量度：優(yōu)于±1%
    3.透過率分辨率：0.005%；
    4.光密度測(cè)量范圍：0.00 OD --- 5.00 OD
    5.光密度的分辨率：
        0.01  for  0.00 - 3.00 OD
        0.05  for  3.00 - 5.00 OD
    6.zui大測(cè)量點(diǎn)數(shù)：36點(diǎn)
    7.相鄰探測(cè)頭之間距離：zui小70mm
    8.發(fā)送接收探頭之間距離：20mm
    9.溫度范圍： -20°C --- +70°C
    10.數(shù)據(jù)刷新周期：300ms
    11.儀器整體尺寸： 100mm（寬）*230mm（）* 長(zhǎng)度(根據(jù)客戶要求定制)
    12.需真空法蘭電芯數(shù)：6根（不配電腦監(jiān)控），9根（配電腦監(jiān)控）
    13.電源：220V AC/50Hz
    14.通訊：雙路RS485