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介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀 型號：DP-JDB

更新時間：2020-08-25點擊次數(shù)：1619

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀  型號：DP-JDB 

、符合標準：

ASTM D150-11實心電緣材料的交流損耗特性和電容率（介電常數(shù)）的標準試驗方法；

GB/T1409-2006測量電氣緣材料在頻、音頻、頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法；

GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法；

GBT5594.4-2015電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法4分:介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測試方

二、主機及夾具參數(shù)：

項目/型號

DP-JDB

DP-JDA

DP-JDC

信號源

DDS數(shù)字合成信號

頻率范圍

10KHZ-70MHZ

10KHZ-110MHZ

100KHZ-160MHZ

信號源頻率覆蓋比

7000:1

11000:1

16000:1

采樣度

11BIT

12BIT

信號源頻率度

3×10-5 ±1個字,6位有效數(shù)

Q值測量范圍

1～1000自動/手動量程

Q值量程分檔

30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔

Q分辨率

4位有效數(shù)，分辨率0.1

Q測量作誤差

＜5%

電感測量范圍

1nH～8.4H,；分辨率0.1

1nH～140mH；分辨率0.1

電感測量誤差

＜3%

電容直接測量范圍

1pF～2.5uF

1pF～25uF

調(diào)諧電容誤差分辨率

±1pF或＜1%

主電容調(diào)節(jié)范圍

30～540pF

17～240pF

諧振點搜索

自動掃描

自身殘余電感扣除能

有

大電容值直接顯示能

有

介質(zhì)損耗直讀能

有

介質(zhì)損耗系數(shù)度

分之

介質(zhì)損耗測試范圍

0.0001-1

介電常數(shù)直讀能

無

有

介電常數(shù)度

千分之

介電常數(shù)測試范圍

0-1000

LCD顯示參數(shù)

F,L,C,Q,LT,CT,波段等

準確度

150pF以下±1pF；150pF以上±1%

Q合格預(yù)置范圍

5～1000聲光提示

環(huán)境溫度

0℃～+40℃

消耗率

約25W

電源

220V±22V，50Hz±2.5Hz

片尺寸

38mm/50mm(二選)

片間距可調(diào)范圍

≥15mm

材料測試厚度

0.1-10mm

夾具插頭間距

25mm±0.01mm

夾具損耗正切值

≤4×10－4 （1MHz）

測微桿分辨率

0.001mm

測試片

材料測量直徑Φ38mm/50mm，厚度可調(diào) ≥ 15mm

三、配置：

序號

標準配置

單位/數(shù)量

1

主機

臺

2

S916夾具

套

3

電感組

九只

4

電源線

根

選配：USB模塊、液體杯（測量片直徑 Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm）