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Technical articles新品便攜式電阻率/方阻測試儀/便攜式電阻測定儀/方阻儀 型號:DP-KDY-1A
便攜式電阻率測試儀是用來測量硅晶塊、晶片的電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的儀器。
本儀器按照半導體材料電阻率的標準測試方法。
它由電器測量份(主機)及四探針頭組成,需要時可加配測試架。
為減小體積,本儀器用同塊數(shù)字表測量電流及電阻率。樣品測試電流由恒流源提供,隨時可行校準,以確保電阻率測量的準確度。儀器可以用來分選材料也可以用來作產(chǎn)品檢測。對1~100Ω·cm標準樣片的測量誤差不過±3%,在此范圍內(nèi)達到標準.
(1)測量范圍:
可測方塊電阻: 0.1~1999Ω/口
當被測材料電阻率≥200Ω·cm數(shù)字表顯示0.00。
(2)恒流源:
輸出電流:DC 0.1mA~10mA分兩檔
1mA量程:0.1~1mA 連續(xù)可調(diào)
10mA量程:1mA ~10mA連續(xù)可調(diào)
恒流度:各檔均優(yōu)于±0.1%
(1) 直流數(shù)字電壓表
測量范圍:0~199.9mv
靈敏度:100μv
準確度:0.2%(±2個字)
(2) 供電電源:
AC:220V ±10% 50/60HZ 率8W
(3) 使用環(huán)境: 相對濕度≤80%
(4) 重量、體積
重量:2.2 公斤
體積:寬210×100×深240(mm)