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Data download電阻率/方塊電阻測試儀 型號:DP-DB1
DP-DB1本方阻測試產(chǎn)品為薄膜測試提供機械、電氣兩方面的保護,在寬廣的量程范圍內(nèi),使各種電子薄膜能得到準(zhǔn)確、無損的方塊電阻測量結(jié)果。
DP-DB1由于薄膜材料種類繁多,研制過程中樣品性能變化較大,而且各種薄膜的機械強度,允許承受的電壓、電流均不相同,因此DP-DB1型測試儀可為用戶定制各種探針壓力及曲率半徑的探針頭,儀器的測試電流分7檔,可由0.4μA增加到大為1000mA,測試電壓可由8V增加到80V,測試電壓和測試電流均可連續(xù)調(diào)節(jié),給薄膜、涂層的研制者提供了個摸索測試條件的寬闊空間。
由于儀器設(shè)有恒流源開關(guān),并且所有電流檔在探針與樣品接觸后均有電流延時接通的能,充分保護了樣品表面不會因為探針接觸時產(chǎn)生的電火花而受到損壞。
DP-DB1儀器性能
方阻測量范圍:1×10-5~2×106Ω/□,小分辨率1×10-5Ω/□;
電阻率測量范圍:1×10-6~2×105Ω·cm或1×10-8~2×103Ω·m,小分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m;
探針壓力:25g~250g;
探針曲率半徑:25μm~450μm
(注:探針壓力及曲率半徑可根據(jù)薄膜材料性能及用戶需求定制);
測試電流分7檔:1μA、10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA、1000 mA;
測試電壓:(1μA~10 mA檔)12~80V連續(xù)可調(diào)
(100mA檔) 8~36V連續(xù)可調(diào)
(1000mA檔) 8~15V連續(xù)可調(diào);
測量方式:手動或自動(配置測試軟件);
測量對象:導(dǎo)電薄膜、半導(dǎo)體薄膜、電力電容器鋁箔、各種金屬箔、銀漿涂層、鋰電池隔膜等各種新型電子薄膜;各種半導(dǎo)體材料的電阻率。
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