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手持式數(shù)字式四探針測試儀/手持式四探針測試儀/四探針電阻測試儀

產(chǎn)品簡介

手持式數(shù)字式四探針測試儀/手持式四探針測試儀/四探針電阻測試儀 型號:DPDM-2

DPDM-2型手持式數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.M 標準。

產(chǎn)品型號:DPDM-2
更新時間:2017-10-24
廠商性質:生產(chǎn)廠家
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手持式數(shù)字式四探針測試儀/手持式四探針測試儀/四探針電阻測試儀 型號:DPDM-2

DPDM-2型手持式數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.M 標準。

      儀器成套組成:由主機、選配的四探針探頭等二分組成,也可加配測試臺。

主機主要由數(shù)控恒流源,分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成,自動轉換量程。儀器所有參數(shù)設定、能轉換采用旋鈕輸入;具有零位、滿度自校能;自動轉換量程;測試結果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電,適合手持式變動場合操作使用!

      探頭選配:根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻;也有形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜(ITO膜)或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻行測量。配探頭,也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。

     

         詳見  2《四探針探頭型號規(guī)格特征選型參照表》點擊入

儀器具有測量度、靈敏度、穩(wěn)定性好、化程度、結構緊湊、使用簡便等特點。

儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。

三、基本參數(shù)

1. 測量范圍、分辨率

        阻:     0.010 9999Ω,    分辨率0.001 1 Ω

    率:     0.010 2000Ω-cm 分辨率0.001 1 Ω-cm

    方塊電阻:     0.050 2000Ω/□   分辨率0.001 1 Ω/□

2. 材料尺寸

   手持方式不限材料尺寸,但加配測試臺則由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定

       徑:DPD/SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15130mm。

   DPD/SZT-C方測試臺直接測試方式180mm×180mm。

   ()度:測試臺直接測試方式 H≤100mm。.

   測量方位: 軸向、徑向均可.

3. 量程劃分及誤差等級

量程(Ω-cm/□

9.999

99.99

999.9

9999.

電阻測試范圍

0.010~9.999

9.99~99.99

99.99~999.9

999.9~9999

電阻率/方阻

0.010/0.050~9.999

9.99~99.99

99.99~999.9

999.9~2000

基本誤差

±1%FSB±2LSB

±2%FSB±2LSB

4) 適配器作電源:220V±10, f=50Hz±4,PW≤5W,或電池供電

5) 外形尺寸:W×H×L=18cm×7.5cm×13cm

   重:≤0.5kg

 

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