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低阻抗分析儀/表面阻抗測(cè)試儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

低阻抗分析儀/表面阻抗測(cè)試儀 型號(hào):MCP-T370

四探針方案-觸式度的各種材料的表面電阻率測(cè)量。
查找只需按下啟動(dòng)按鈕,確認(rèn)自動(dòng)測(cè)量能,可自動(dòng)保持當(dāng)前的測(cè)量值。

產(chǎn)品型號(hào):MCP-T370
更新時(shí)間:2018-05-20
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪問量:1384

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低阻抗分析儀/表面阻抗測(cè)試儀 型號(hào):MCP-T370

四探針方案-觸式度的各種材料的表面電阻率測(cè)量。
查找只需按下啟動(dòng)按鈕,確認(rèn)自動(dòng)測(cè)量能,可自動(dòng)保持當(dāng)前的測(cè)量值。
電池壽命可以采用鎳氫電池組可以方便地替換。
新增探頭校準(zhǔn)模式。檢查探頭校準(zhǔn)片(另售),以確認(rèn)Roresuta AX測(cè)試值的準(zhǔn)確性。
測(cè)量數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出到USB存儲(chǔ)器。

 

 

規(guī)格
測(cè)量方法 四端四探針法
施加恒定電流的方法
測(cè)量范圍 10 -2?10 6 Ω
標(biāo)準(zhǔn)配置 四探針探頭(ASP)AC適配器 說明書 檢查確認(rèn)書

 

選項(xiàng)
探頭選項(xiàng)
類型 適用被測(cè)試樣品 型號(hào)
ESP 對(duì)于異類樣本 MCP - TP08P
PSP 小樣本的薄膜 MCP - TP06P
QPP 對(duì)于小樣本 MCP - TPQPP
TFP 有關(guān)硅晶片或玻璃基板薄膜 MCP - TFP

 

 

校準(zhǔn)塊 型號(hào):MCP - TRF1

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