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四探針測(cè)試儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量裝置,它可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率,擴(kuò)散層的薄層電阻(亦稱方塊電阻)。換上四端子測(cè)試夾具,還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類接觸電阻行測(cè)量。

產(chǎn)品型號(hào):DP-ST2258A
更新時(shí)間:2020-09-02
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪問(wèn)量:2205

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概述
  DP-ST2258A型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量裝置,它可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率,擴(kuò)散層的薄層電阻(亦稱方塊電阻)。換上四端子測(cè)試夾具,還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類接觸電阻行測(cè)量。
  本測(cè)試儀特贈(zèng)設(shè)測(cè)試結(jié)果分類能,zui大分類10類
  儀器所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用數(shù)字化鍵盤輸入;具有零位、滿度自校能;自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程;測(cè)試探頭采用寶石導(dǎo)向軸套和耐磨碳化鎢探針制成,故定位準(zhǔn)確、游移率小、壽命長(zhǎng);測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。
基本參數(shù)
1. 測(cè)量范圍、分辨率
電    阻:     1.0×10-3 ~ 200.0×103  Ω,    分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×103  Ω
電 阻 率:     10.0×10-3 ~ 20.0×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×103  Ω-cm
方塊電阻:     10.0×10-3 ~ 20.0×103 Ω/□  分辨率1.0×10-3 ~ 0.1×103  Ω/□
2. 可測(cè)半導(dǎo)體材料尺寸
直        徑:  測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15~130mm,其他方式不限.
長(zhǎng)(或)度:  測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤160mm,    其他方式不限.
3. 量程劃分及誤差等級(jí)

量程
200.0
20.00
2.000
200.0
20.00
2.000
200.0
kΩ-cm/□
Ω-cm/□
mΩ-cm/□
誤差
±0.5%FSB±1LSB(在各量程范圍內(nèi)),量程或欠量程可測(cè)量,但誤差將隨欠程度而變大

4) 作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W
5) 外形尺寸:W×H×L=20cm×7.5cm×18cm
凈   重:≤1kg

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