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四探針測試儀

產(chǎn)品簡介

四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置,它可以測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率,擴(kuò)散層的薄層電阻(亦稱方塊電阻)。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測量。

產(chǎn)品型號:DP-ST2258A
更新時間:2020-09-02
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪問量:2262

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010-51298264

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概述
  DP-ST2258A型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置,它可以測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率,擴(kuò)散層的薄層電阻(亦稱方塊電阻)。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測量。
  本測試儀特贈設(shè)測試結(jié)果分類能,zui大分類10類
  儀器所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用數(shù)字化鍵盤輸入;具有零位、滿度自校能;自動轉(zhuǎn)換量程;測試探頭采用寶石導(dǎo)向軸套和耐磨碳化鎢探針制成,故定位準(zhǔn)確、游移率小、壽命長;測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。
基本參數(shù)
1. 測量范圍、分辨率
電    阻:     1.0×10-3 ~ 200.0×103  Ω,    分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×103  Ω
電 阻 率:     10.0×10-3 ~ 20.0×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×103  Ω-cm
方塊電阻:     10.0×10-3 ~ 20.0×103 Ω/□  分辨率1.0×10-3 ~ 0.1×103  Ω/□
2. 可測半導(dǎo)體材料尺寸
直        徑:  測試臺直接測試方式 Φ15~130mm,其他方式不限.
長(或)度:  測試臺直接測試方式 H≤160mm,    其他方式不限.
3. 量程劃分及誤差等級

量程
200.0
20.00
2.000
200.0
20.00
2.000
200.0
kΩ-cm/□
Ω-cm/□
mΩ-cm/□
誤差
±0.5%FSB±1LSB(在各量程范圍內(nèi)),量程或欠量程可測量,但誤差將隨欠程度而變大

4) 作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W
5) 外形尺寸:W×H×L=20cm×7.5cm×18cm
凈   重:≤1kg

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